RS-40 X 射線涂層測厚儀可測量電解線和浸涂線鋼帶上金屬涂層的非接觸式、高精度和連續(xù)沉積。
用于上下帶材側(cè)面的兩個(gè)反向散射頭可以在一個(gè)共同的 O 型框架(橫向移動(dòng))中提供,也可以作為具有兩個(gè)單獨(dú)導(dǎo)軌的單獨(dú)系統(tǒng)提供。在第一種情況下,測量是針對(duì)自由運(yùn)行的條帶進(jìn)行的,而單個(gè)導(dǎo)軌的橫向運(yùn)動(dòng)允許針對(duì)返回滑輪進(jìn)行測量。
在熱鍍鋅生產(chǎn)線中,測量系統(tǒng)可以安裝在冷、暖和熱位置。差異僅存在于測量頭和測量點(diǎn)電氣元件的冷卻和絕緣上。為了在熱位置進(jìn)行測量,我們提供了與相應(yīng)生產(chǎn)線精確匹配的客戶特定測量裝置。
與所有 Rayonic X 射線源和探測器一樣,反向散射頭安裝在堅(jiān)固的不銹鋼外殼中。它們由帶管的 X 射線源、高壓電子設(shè)備、發(fā)射控制和光束快門以及檢測器模塊組成,這些模塊僅在預(yù)過濾器方面的不同應(yīng)用有所不同。
可以測量以下涂層:鋅和鋅合金(Zn / Ni、Zn / Al)、鋁、錫、銅和黃銅、鎳、鈷、鉻、鍍鋅。對(duì)于合金,除了總覆蓋層外,例如鋅和鋁是針對(duì) Zn/Al 合金確定的。可根據(jù)要求提供更多涂層。
瑞尤尼克(Rayonic)的技術(shù)水平
解 決 問 題 的 方 法 – R a y o n i c 方 法
對(duì)于客戶專用的鎳和鈷涂層測量儀,Rayonic面臨雙重挑戰(zhàn):
測量原理
用X射線熒光法測量鈷涂層非常困難,以前還沒有實(shí)現(xiàn)在線測量。 似乎這不足以構(gòu)成挑戰(zhàn),此外還必須測量第二層鎳涂層。 Rayonic提出了令人信服的概念,并在幾個(gè)月內(nèi)實(shí)現(xiàn)了新穎的測量?,F(xiàn)有的掃描儀框架無法在電解涂層線的狹窄空間中使用。 通過設(shè)計(jì)一個(gè)全新的掃描儀框架來解決該問題,該掃描儀框架以厘米精度安裝到最終位置,此后測量系統(tǒng)極大地節(jié)省了原材料,并優(yōu)化了涂層質(zhì)量和生產(chǎn)工藝。
材料 | 鋅 | 錫 | 鎳 |
應(yīng)用 | 熱浸鍍鋅 | 熱浸鍍鋅,電解鍍鋅 | 電鍍 |
類型 | 熱態(tài)、溫態(tài)和冷態(tài)測厚儀 | 矩形框架掃描儀,單光束 | 矩形框架掃描儀,單光束 |
運(yùn)行參數(shù) | 32kV/0.6 mA | 25kV/0.8 mA | 32kV/0.6 mA |
測量范圍 | 10 - 350 g/m2 | 0.01 - 5.0 μm | 0.01 - 10.0 μm |
測量間隙 | 30 - 60mm | 40mm | 40mm |
精度 | 0.10% | 0.10% | 0.10% |
經(jīng)常測量的金屬涂層
使用RS-40壓力計(jì)的是鋅和鋅合金(Zn / Ni,Zn / Al),鋁和錫。
其他典型應(yīng)用是銅,黃銅,鎳,鈷和鉻涂層。 對(duì)于諸如Zn / Al的合金,除了總涂層厚度外,還可以選擇確定合金的成分。 對(duì)于鍍鋅涂層,需要測量鐵含量以及涂層厚度。
快速的投資回報(bào)
瑞尤尼克設(shè)計(jì),制造和提供創(chuàng)新的測量和控制解決方案,用于連續(xù),非接觸式測量金屬和非金屬帶材,卷材和板材的厚度和涂層厚度。快速,非常精確的測量數(shù)據(jù)可持續(xù)監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量。 與自動(dòng)化系統(tǒng)相結(jié)合,厚度測量得以改善,保證了產(chǎn)品質(zhì)量并節(jié)省了原材料。減少廢品和降低能耗可帶來進(jìn)一步的經(jīng)濟(jì)效益
鋼板上金屬涂層厚度的測量利用了X射線熒光(XRF)效應(yīng)。 X射線源的主光束直接對(duì)準(zhǔn)要測量的材料,并在涂層和基材中產(chǎn)生二次各向同性的X射線,即所謂的熒光輻射。
熒光輻射的能量是產(chǎn)生輻射的元素特征。鋼板中產(chǎn)生的輻射具有與涂層(如鋅層)中產(chǎn)生的熒光輻射不同的能量。使用差分濾波器的方法,可以選擇輻射的一個(gè)或另一個(gè)分量進(jìn)行測量。
安裝在測量頭中的探頭模塊在反向方向(例如,水平方向)上檢測選定的輻射分量。金屬涂層的輻射。涂層厚度的增加也增加了涂層的熒光輻射的強(qiáng)度。熒光輻射強(qiáng)度的測量可以精確確定涂層的厚度。
|
鋅 |
錫 |
鎳 |
加工生產(chǎn)線 |
熱浸鍍鋅 |
熱浸鍍和電解鍍鋅 |
電鍍 |
類型 |
熱,溫和冷儀表 |
O型框架型掃描儀或單光束 |
O型框架型掃描儀或單光束 |
操作參數(shù) |
32kV/0.6 mA |
25kV/0.8 mA |
32kV/0.6 mA |
測量范圍 |
10 - 350 g/m2 |
0.01 - 5.0 μm |
0.01 - 10.0 μm |
測量差 |
30 - 60mm |
40mm |
40mm |
精度 |
0.10% |
0.10% |
0.10% |