DIATEST探頭T-0X

探針的半圓形測量爪通過顯示裝置的測量力展開，并且以孔的中間為中心。使用設(shè)置環(huán)將設(shè)備設(shè)置為零（校準(zhǔn)）。手動測量時，測量裝置在孔中振蕩，反向指針偏轉(zhuǎn)顯示測量值。在支架上測量時，沒有擺錘動作。

• 分體式球形探頭-探頭裝置是用于指示內(nèi)部測量的通用孔規(guī)。
• 模塊化設(shè)備系統(tǒng)能夠測量實踐中出現(xiàn)的大多數(shù)鉆孔。
• 這允許測量設(shè)備用于系列和單獨檢查，并且選在生產(chǎn)機器上操作。
• Diatest的新型“DLC黑金剛石”（類金剛石碳）涂層提供了高的耐磨保護(hù)，因為它的硬度是鉻涂層的兩倍，從而延長了使用壽命。

產(chǎn)地：德國

測量方式：內(nèi)部測量

測量類型：孔徑

范圍：0.0185-.0210“（T-0X）

孔徑類型：“T”（通孔）

探針材料：DLC黑金剛石

探頭：分體式球形

顏色：黑色

耐磨保護(hù)：是

耐腐蝕：是

測量爪：半圓形

使用DIATEST分體式球探頭，測量孔徑、幾何形狀誤差，如橢圓度、錐度、筒形等。