OLYMPUSX射線(xiàn)衍射儀BTX Profiler

品　　牌：OLYMPUS
型　　號(hào)：BTX Profiler
技術(shù)資料：
閱讀次數(shù)：7484

產(chǎn)品介紹

用XRD和XRF組合技術(shù)對(duì)材料進(jìn)行全面分析

利用2維傳輸XRD技術(shù)進(jìn)行礦物學(xué)-結(jié)晶相分析
使用能量色散XRF技術(shù)進(jìn)行元素分析
數(shù)據(jù)與結(jié)果的整合天衣無(wú)縫
節(jié)省了操作成本、空間和時(shí)間

BTX Profiler所使用的創(chuàng)新型XRD技術(shù)是美國(guó)國(guó)家航空航天局成功的火星科學(xué)實(shí)驗(yàn)室項(xiàng)目中的“好奇”號(hào)漫游者曾經(jīng)使用過(guò)的技術(shù)。它所采用的另一種技術(shù)是Olympus的X射線(xiàn)分析儀所使用的廣受贊譽(yù)、優(yōu)質(zhì)實(shí)用的XRF技術(shù)。

詳細(xì)參數(shù)

BTX Profiler的技術(shù)規(guī)格

	用于單個(gè)樣品分析的BTX Profiler	用于多個(gè)樣品分析的BTX Profiler
XRD的技術(shù)規(guī)格
XRD范圍	5-55度 2θ	5-55度 2θ
XRD分辨率	0.25度 2θ	0.25度 2θ
XRD探測(cè)器類(lèi)型	1024 × 256像素2維Peltier致冷CCD	1024 × 256像素2維Peltier致冷CCD
樣件顆粒大小	<150 μm碾壓粉末（100目篩）	<150 μm碾壓粉末（100目篩）
其它樣品類(lèi)型	凝膠、潤(rùn)滑脂	凝膠、潤(rùn)滑脂
樣品量	~ 0.5 g	~ 0.5 g
X射線(xiàn)目標(biāo)材料	銅（鈷為可選項(xiàng)）	銅（鈷為可選項(xiàng)）
X射線(xiàn)管電壓	30 kV	30 kV
X射線(xiàn)管最大電流	330 μA	330 μA
XRF的技術(shù)規(guī)格
XRF探測(cè)器	大區(qū)域硅漂移探測(cè)器	大區(qū)域硅漂移探測(cè)器
X射線(xiàn)目標(biāo)材料	銠	銠
X射線(xiàn)管幾何形狀	發(fā)射目標(biāo)端窗口	發(fā)射目標(biāo)端窗口
X射線(xiàn)管電壓	40 kV	40 kV
X射線(xiàn)管最大電流	200 μA	200 μA
輕元素分析	氦沖，大約0.25 l/min	氦沖，大約0.25 l/min
主要過(guò)濾器	可配置7個(gè)位置	可配置7個(gè)位置
樣品量	~2 g	~2 g

工作溫度	-10 °C～35°C	-10 °C～35°C
重量	23.13 kg / 單樣品儀器	32.66 kg / 帶20個(gè)位置自動(dòng)進(jìn)樣機(jī)的儀器
外型尺寸	49.3 cm × 39.7 cm × 34.4 cm / 單樣品儀器	67.4 cm × 39.7 cm × 34.4 cm / 帶20個(gè)位置自動(dòng)進(jìn)樣機(jī)的儀器

BTX Profiler的技術(shù)規(guī)格

XRD分辨率	0.25^o 2? FWHM
XRD范圍	5 - 55^o 2?
探測(cè)器類(lèi)型	1024 x 256像素；2維Peltier致冷CCD
XRF能量分辨率	200eV，5.9 keV
XRF能量范圍	3到25 keV
樣件顆粒大小	<150 μm 碾壓礦物質(zhì)（100目篩，150 μm）
樣品量	~ 15 mg
X射線(xiàn)目標(biāo)材料	鈷或銅（鈷為可選項(xiàng)）
X射線(xiàn)管電壓	30 kV
X射線(xiàn)管功率	10 W
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)	40 Gb - 堅(jiān)固耐用的內(nèi)部硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器
無(wú)線(xiàn)連接	802.11 b/g，從網(wǎng)絡(luò)瀏覽器進(jìn)行遙控
工作溫度	-10^oC到35^oC
重量	12.5 kg

OLYMPUSX射線(xiàn)衍射儀BTX Profiler

產(chǎn)品介紹

用XRD和XRF組合技術(shù)對(duì)材料進(jìn)行全面分析

詳細(xì)參數(shù)

BTX Profiler的技術(shù)規(guī)格

BTX Profiler的技術(shù)規(guī)格

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